HIOKI3532-50高速LCR測(cè)試儀

HIOKI3532-50高速LCR測(cè)試儀基本精度±0.08%，測(cè)量頻率可調(diào):DC、1mHz~100kHz(3522-50)/42Hz~5MHz(3532-50)3535
基本精度Z:±0.5%，θ:±0.3°寬頻帶100kHz~120MHz，*快5ms(3522-50/3532-50)的高速LCR測(cè)試儀

HIOKI 3532-50高速LCR測(cè)試儀寬頻帶、測(cè)量頻率可調(diào)的3522/3532LCR測(cè)試儀，將測(cè)試速度提高到了5ms(是原有型號(hào)的4倍)。
3522-50高速LCR測(cè)試儀可提供DC和1mHz~100kHz的測(cè)試頻率，
3532-50高速LCR測(cè)試儀的測(cè)試頻帶為42Hz~5MHz。能提供與元器件工作條件更為接近的測(cè)試條件。
3535高速LCR測(cè)試儀為100kHz~120MHz的寬頻量程且價(jià)位低。具有6ms高速測(cè)定的內(nèi)置比較器和負(fù)載補(bǔ)償、BIN(分類)測(cè)量功能，應(yīng)用范圍廣，例如芯片互感、高速磁頭測(cè)試以及其他相關(guān)研發(fā)需求?？蓪⑶爸梅糯笃髋c3535拆離，使用指定電纜將其延伸，并盡可能接近被測(cè)物，以減小測(cè)量導(dǎo)線的影響。
簡(jiǎn)易的操作和低廉的價(jià)格，賦予這些元器件測(cè)試儀器出眾的性價(jià)比。無論是用于實(shí)驗(yàn)室評(píng)估運(yùn)行特性，還是用于生產(chǎn)線，都是您的理想選擇。

HIOKI 3532-50高速LCR測(cè)試儀通過計(jì)算機(jī)進(jìn)行外部控制

3522-50/3532-50通過安裝選件9593-01、RS-232C接口、或者GP-IB接口，除了電源ON/OFF以外，本機(jī)的所有其它功能都可以由計(jì)算機(jī)來實(shí)現(xiàn)控制。

HIOKI 3532-50高速LCR測(cè)試儀使用表格計(jì)算軟件的圖表

通過使用市場(chǎng)上有售的標(biāo)準(zhǔn)表格計(jì)算軟件，輸入計(jì)算機(jī)的測(cè)量數(shù)據(jù)即可實(shí)現(xiàn)圖表化。以下的例子為3532-50利用連續(xù)變化的頻率來測(cè)量1MHz石英振子的頻率特性，讀入EXCEL中，然后顯示的結(jié)果圖表。用4位分辨率設(shè)置頻率，如圖表所顯示，還可評(píng)估急劇變化的共振點(diǎn)特性。

HIOKI3532-50高速LCR測(cè)試儀與本機(jī)相同，*多可以選4項(xiàng)監(jiān)測(cè)項(xiàng)目。選擇項(xiàng)目的數(shù)據(jù)被列成文件。
可設(shè)置如掃頻、數(shù)據(jù)直接輸出等項(xiàng)目。此外，每按返回鍵，即可輸出數(shù)據(jù)。

HIOKI3532-50高速LCR測(cè)試儀通過使用RS-232C接口，備有在計(jì)算機(jī)上設(shè)定頻率掃描的同時(shí)，利用EXCEL將測(cè)試數(shù)據(jù)文件化的采樣軟件。

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